Teodor Gotszalk

Problem Teodor Gotszalk jest obecnie jednym z najbardziej istotnych problemów. Jego wpływ obejmuje różne aspekty społeczeństwa, od ekonomii po politykę, w tym kulturę i technologię. W tym artykule szczegółowo przeanalizujemy Teodor Gotszalk, badając jego pochodzenie, ewolucję w czasie i jego wpływ w różnych obszarach. Dodatkowo przyjrzymy się bliżej debatom i kontrowersjom wokół Teodor Gotszalk, a także możliwym przyszłym implikacjom tego zjawiska. Mamy nadzieję, że dzięki tej szczegółowej analizie przedstawimy pełne i bogate spojrzenie na Teodor Gotszalk, pozwalając czytelnikowi lepiej zrozumieć jego znaczenie w dzisiejszym świecie.

Teodor Paweł Gotszalk
Państwo działania

 Polska

Data i miejsce urodzenia

20 czerwca 1966
Wrocław

Profesor nauk technicznych
Specjalność: nanometrologia
Alma Mater

Politechnika Wrocławska

Polska Akademia Nauk
Status

członek korespondent

Profesor zwyczajny
Uczelnia wyższa

Katedra Nanometrologii, Politechnika Wrocławska

Teodor Paweł Gotszalk (ur. 20 czerwca 1966 we Wrocławiu[1]) – polski naukowiec, kierownik Katedry Nanometrologii na Politechnice Wrocławskiej[2], od 2022 roku członek korespondent Polskiej Akademii Nauk[3]. Ekspert w zakresie nanometrologii, w szczególności w zakresie technik mikroskopii bliskich oddziaływań, skaningowej mikroskopii elektronowej i technik zogniskowanych wiązek jonów. Jest specjalistą w badaniach z wykorzystaniem urządzeń mikroelektromechanicznych (ang. microelectomechanical systems, MEMS). Autor ponad 200 publikacji w renomowanych czasopismach[4], Indeks Hirscha według bazy Scopus wynosi 26[5]. Jest promotorem 18 zamkniętych przewodów doktorskich, a 2 obrony rozpraw doktorskich są przewidziane w 2025 roku.

Życiorys[1]

" class="mw-editsection-visualeditor">edytuj | edytuj kod]

Studia odbył na Wydziale Elektroniki oraz Wydziale Elektrycznym Politechniki Wrocławskiej. Stopień doktora otrzymał w 1996 roku po odbyciu studiów doktoranckich w Instytucie Technologii Elektronowej PWr. W 2005 roku otrzymał stopień doktora habilitowanego. W 2012 roku uzyskał tytuł profesora nauk technicznych[6].

Kierownik Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur od 2006 roku (obecnie Katedra Nanometrologii). Jest to jedyna w Polsce grupa badawcza zorganizowana wokół kompleksowych badań metrologicznych mikro- i nanostruktur. W badaniach wykorzystywane są mikroskopia bliskich oddziaływań, mikroskopia elektronowa i jonowa skojarzone z metodami i technikami pomiarów właściwości elektrycznych, termicznych, dyfrakcyjnych oraz optycznych. Teodor Gotszalk jest również opiekunem Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego Polskich Entuzjastów Nanotechnologii (SPENT). Jest i był recenzentem paneli eksperckich w europejskich programach metrologicznych European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR), programach Unii Europejskiej (6,7 Programach Ramowych) oraz w programie Horyzont 2020, Europejskiej Fundacji Naukowej (ang. European Science Foundation-ESF), Europejskiej Rady Naukowej (ang. European Research Councli-ERC), i Narodowego Centrum Nauki (NCN).

Był recenzentem 17 rozpraw doktorskich (7 w Niemczech (Uniwersytet Techniczny w Ilmenau), 1 w Australii (Uniwersytet w Perth), 1 w Wlk. Brytanii (Imperial College w Londynie), 1 w Szwajcarii (EPFL w Lozannie), 5 w ośrodkach krajowych). W latach 2010–2021 wygłosił 21 zaproszonych wykładów w ośrodkach zagranicznych m.in. Uniwersytety w Princeton, CNSE Albany i Los Angeles, (USA), IBM Yorktown Heights (USA), NIST (USA), NPL (Wlk. Brytania), Imperial College (Wlk. Brytania), EMPA Thun (Szwajcaria), Uniwersytet w Ilmenau (Niemcy), Uniwersytet w Pawii (Włochy), Uniwersytet w Singapurze.

Granty i stypendia[7][8]

" class="mw-editsection-visualeditor">edytuj | edytuj kod]

Stypendysta Deutscher Akademischer Austauschdienst (DAAD) (łącznie 30 miesięcy), Komisji Fulbrighta (4 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Albany, College of Nanoscience and Engineering (CNSE) w 2010 roku) i Fundacji Kościuszkowskiej (3 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Berkeley w 2022 roku). Pracował w laboratoriach badawczo rozwojowych koncernu SIEMENS (łącznie 6 miesięcy), National Physical Laboratory (NPL) w Wlk. Brytanii (łącznie 3 miesiące) i Instytucie Badań Materiałowych EMPA w Thun Szwajcaria (łącznie 1 miesiąc).

Laureat programów Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej (FNP) (stypendium krajowe w 1997 roku, program TECHNE, program TEAM, stypendium profesorskie MISTRZ). Dodatkowo:

  • Kierownik 3 projektów własnych i 4 projektów promotorskich Komitetu Badań Naukowych (KBN)
  • Kierownik 3 grantów OPUS NCN
  • Opiekun naukowy 3 grantów OPUS PRELUDIUM
  • Kierownik 2 grantów badawczych z 6 Programu Ramowego Badań UE (STREP TASNANO oraz IP PRONANO) oraz 1 z 7 Programu Ramowego (STREP NanoHeat)
  • Kierownik 2 grantów badawczych w programu metrologicznego EMPIR (EMPIR NanoWires i EMPIR MetExSPM)
  • Koordynator krajowy projektu COST Action: Focused Ion Technology for Nanomaterials-FIT4NANO
  • Kierownik projektu UE EURIPIDES Komercyjna dostępna technologia dźwigni ze zintegrowanymi detektorami ugięcia dla mikroskopii bliskich oddziaływań[9]

Przypisy

  1. ↑ a b Teodor Paweł Gotszalk, Informacja o kandydacie wnioskowanym po raz pierwszy na stanowisko, 11 maja 2017.
  2. ↑ Pracownicy / K72 , wzn.pwr.edu.pl .
  3. ↑ GOTSZALK, Teodor Paweł - Polska Akademia Nauk - Członkowie PAN , pan.pl (pol.).
  4. ↑ Web of Science , www.webofscience.com .
  5. ↑ Scopus preview - Gotszalk, Teodor Paweł - Author details - Scopus , www.scopus.com .
  6. ↑ Prof. dr hab. inż. czł. koresp. PAN Teodor Paweł Gotszalk, baza „Ludzie nauki” portalu Nauka Polska (OPI PIB) .
  7. ↑ Wydziałowy Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur | Teodor Gotszalk , w12.pwr.wroc.pl .
  8. ↑ Projekty / K72 , wzn.pwr.edu.pl .
  9. ↑ Projekt